| Yüksek gerilim anahtarlama ve kontrol düzenleri ve/veya temsili numuneler ve bileşenleri. |
1) Mahfazalarla sağlanan (IP ve IK) koruma dereceleri, 2) Şebeke frekanslı gerilim deneyleri, 3) Yıldırım darbe gerilim deneyleri, 4) Yardımcı ve kontrol devrelerine ilişkin dielektrik deneyleri, 5) Kısmi boşalma deneyi, 6) Direnç ölçümü, 7) Sürekli akım deneyleri, 8) Kısa süreli dayanım akımı ve tepe dayanım akımı deneyleri, 9) Korumanın doğrulanması (IP-IK), 10) Yardımcı kontakların çalışma karakteristiklerinin doğrulanması, 11) Dielektrik deneyleri, 12) Ana devrede dielektrik deneyi, 13) Yardımcı ve kontrol devrelerinde deneyler, 14) Ana devrenin direncinin ölçülmesi, 15) Tasarım ve gözle kontroller |
EN 62271-1: 1) Madde 6.14, 2) Madde 7.2.7.2, 3) Madde 7.2.7.3, 4) Madde 7.2.10, 5) Madde 7.2.11, 6) Madde 7.4, 7) Madde 7.5, 8) Madde 7.6, 9) Madde 7.7, 10) Madde 7.10.3, 11) Madde 7.10.5, 12) Madde 8.2, 13) Madde 8.3, 14) Madde 8.4, 15) Madde 8.6, |
